CEDIA a présenté le document « Extensions proposées à la méthodologie du dépistage technologique ».
Dans le cadre du projet structurant de l'Unité de Veille Technologique CEDIA , des travaux ont été menés pour poser les bases méthodologiques des processus de veille technologique et de veille concurrentielle.
Ce travail a conduit à l'élaboration de propositions d'amélioration de la norme espagnole UNE 166006:2018, afin qu'elle s'adapte aux besoins de l'environnement dans lequel se trouve CEDIA .
Ces propositions ont été reflétées dans l'article scientifique « Propositions d'extensions à la méthodologie de reconnaissance technologique », rédigé entre l'équipe VTIC, le Domaine Académique et la Direction Exécutive du CEDIA , qui a été soumis et approuvé par le comité d'évaluation de la conférence KMIS.
Grâce à ce travail, des collaborateurs de l'équipe VTIC du CEDIA se sont rendus à Rome pour présenter ce développement et partager leurs expériences avec des professionnels d'autres institutions réalisant des travaux similaires.
